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微波网络矢量分析仪(同轴法)检测服务

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 微波网络矢量分析仪(同轴法)检测服务
微波网络矢量分析仪(同轴法)检测服务

矢量网络分析仪是一种电磁波能量的测试设备。它既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值,又能测相位,矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。矢量网络可以测试电磁屏蔽和吸波性能。电磁屏蔽计算主要用S参数,吸波效率计算用电磁参数。 微波网络矢量分析仪将合成扫频信号源、多通道幅相接收机和S参数测试装置有机地结合在一台仪器中,具有结构紧凑、测量频带宽、测量速度快和携带方便等特点,测量通过一次扫描,可同时获得被测网络正反向四个S参数的幅度信息、相位信息和群延迟特性。

功能:1.既能测量单端口网络或两端口网络的各种参数幅值,又能测相位,矢量网络分析仪能用史密斯圆图显示测试数据。2.可以测试电磁屏蔽和吸波性能。3.电磁屏蔽计算主要用S参数,吸波效率计算用电磁参数。

1,粉末样品至少200mg(不需要提供石蜡);

2,块体样品测试同轴法,样品尺寸精度要求很高,内径3.04,外径7mm;厚度:不限,一般统一选择( 2±0.040 mm);

3,块体样品测试波导法,不同范围对应不同尺寸,要求样品表面尽量平整光滑、无弯曲。样品尺寸:标准尺寸或者长宽尺寸偏大2-3mm,样品厚度:不限,微米级别-20mm都可以,对于厚度小于0.5mm的薄膜,由于较脆弱,制样不易,尽量大小要提供比标准尺寸大一些,以免出现漏磁,造成数据偏差。

标准尺寸具体如下(宽*长):

1.13-1.73GHz:82.4*164.8 mm

1.72-2.61 GHz:54.46*108.92 mm

2.60-3.95 GHz:33.89*71.84 mm

3.94-5.99 GHz:22.0*47.25 mm

5.38-8.17 GHz:15.75*34.70 mm

8.2-12.4GHz:22.9*10.2mm

12.4-18.0GHz:15.9*8.03mm

18.0-26.5GHz:10.95*4.5mm

26.0-40.0GHz:7.15*3.60mm;

4,块体样品测试弓形法要求 180*180mm,300*300mm,两个尺寸中的一种(直接测吸波效率的,测不了电磁参数)。

5,SPDR 接受块体样品,测试需要厚薄均匀,介电常数>20,

尺寸具体如下(长宽/直径范围,厚度):

1G:110-190mm,3mm

2.5G:60-120mm,3mm

3G:50-120mm,3mm

5G:50-100mm,1.6mm

10G:30-100mm,1mm

15G:20-100mm,0.5mm

20G:20-40mm,0.5mm

28G:20-40mm,0.5mm

39G:20-40mm,0.5mm

6,准光腔:测试需要厚薄均匀,介电常数>20,长>40mm,宽>40mm,厚度<1mm

7,导电性太好的样品建议测试屏蔽效能,测试电磁参数可能会有异常,请慎重选择!

1. 薄膜样品是否可以测试?

根据频率确定测试方法,但是鉴于薄膜样品的情况,一般适合用波导法测试,厚度要求不是很严格,需要自己测量好薄膜的厚度。

2. 粉末测试时,和石蜡的掺杂比怎么确定?

这个##根据自己的样品成分,参考文献来确认。不同样品合适的掺杂比例不同。一般测试时,也很难做到一个掺杂比例就可以得到比较好的测试结果,可能需要根据一个比例的测试结果,来调整掺杂比例,以获取更优的测试结果。但是一般样品的比例太高的话,不一定能制成同轴环,所以可能制样不成功,无法测试。

3. 为什么有的介电常数是负值?

一般可能是因为试样的浓度太高了(即和石蜡掺杂时,样品的比例太高),基本上快成导体了,已经形成导电通道了,介电数据异常了,不过可以看S参数计算屏蔽效能。这时候材料就只有屏蔽效果了,没有吸波性能了,和金属板差不多了,超过预设阈值了,有导电通道了,不适合这个仪器测试范围了。这种情况,一般建议调整降低样品的比例。

4. 磁导率的虚部为什么是负值?

 一般这种情况,样品里可能都含有碳材料

矢量网络分析仪的原理与使用直接取决于系统的动态范围指标,相位波动参数的测试是利用矢量网络分析仪的电子延迟功能来实现的。由于只有偏离线性相移才会引起失真,因此希望移去相位响应的线性部分。利用网络分析仪的电子延迟功能,能够抵消被测器件的电长度,结果得到与线性相移的偏差,即相位波动。

矢量网络分析仪,它本身自带了一个信号发生器,可以对一个频段进行频率扫描。如果是单端口测量的话,将激励信号加在端口上,通过测量反射回来信号的幅度和相位,就可以判断出阻抗或者反射情况。而对于双端口测量,则还可以测量传输参数。由于受分布参数等影响明显,所以网络分析仪使用之前必须进行校准。


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