CMI760测厚仪可用于测量表面铜和穿孔内铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和穿孔内铜厚度准确和精确的测量。CMI760台式测厚仪具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使这款测厚仪满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
同时CMI760测厚仪具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
全国
| 产品/服务： | |
型 号：CMI760 | |
品 牌：牛津仪器 |
有效期至：长期有效 |
| 供货总量： | 最小起订量： |
| 发货期限：自买家付款之日起 3 天内发货 | |
| 最后更新：2019-11-16 | 浏览次数：1614 |
同时CMI760测厚仪具有先进的统计功能用于测试数据的整理分析。
鲁公网安备 37030402000114号