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1. 样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品、液体样品可以涂在载玻片上干燥之后测试（有可能测试到基底，请悉知）。
2. 粉末样品：颗粒一般不超过75微米，手摸无颗粒感，较大需要适当研磨，样品用量一般0.5g以上，（如样品密度偏大，请适量增加），粒度＜200目，越细越好。
3. 块状、薄膜样品：（1）至少有一表面为平整光洁平面。（2）若为立方体则平面长宽≤20mm，且厚度范围50微米～15毫米；（3）若为圆柱体则直径≤20mm，高≤15mm；一定要标明测试面！
注意：请尽量用样品管送粉末样，用样品袋盛装难以刮下且易损失，可能影响测试效果。较薄的薄膜/涂层样品（厚度＜100nm）请慎重选择广角XRD；
微区XRD样品需标记待测点，束斑最小为0.01mm，样品高度应不超过8mm，待测面应平整光滑。
1. 为什么要求XRD测试粉末样品要稍微多一些？
因为粉末样品要铺满整个样品台，不然X射线可能会打在样品台上，影响数据质量。
2. 为什么XRD测试要求薄膜（块体）样品尺寸要合适？
因为放置薄膜（块体）样品的样品台尺寸是固定的，用橡皮泥来固定样品，样品太大放不进去，样品太小不好固定。
3. 为什么XRD数据的峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？
样品的衍射峰强度最主要跟样品本身的结晶度有关，其次跟样品量以及仪器的功率都有关系。
4.粉末样品量过少会有什么样的影响？
答：因为粉末样品要铺满整个样品台，样品量过少可能导致X射线打在样品台上，从而影响数据质量。
5.为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？
答：样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关，结晶度越好，衍射峰越明显，其次才是样品量和仪器功率。
6.步长和扫描速度有何关联？扫描速度对样品的测量有何影响？
答：步长决定了扫描的精细程度，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，如XRD精修等。
7.XRD定量的精确度如何？
答：XRD为半定量分析，定量测试结果精确度有限，仅供参考。
8.为何有些样品的测试结果基线较高？能否改善？
答：有荧光散射现象的样品，如铁含量较高的样品，测试结果会出现基线较高的情况，这是无法改善的。
9.Cu靶的波长是多少？
答：Kα1=1.540538埃。
本公司可进行以下各类仪器测试：EXAFS、球差电镜、冷冻电镜、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位红外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡尔谱、TOF-SIMS、fS-TAS、球差电镜、FIB、TEM度(可离子减薄、双喷、FIB制样)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三维重构等。SEM（冷场/热场超高分辨，10-20万倍(云直播) ），EBSD 机械抛光/电解抛光/氩离子抛光+原位EBSD测试 。AFM 、形貌、杨氏模量、KPFM、PFM、EFM、CAFM等。工业CT 、EPMA 、三维轮廓仪、共聚焦显微镜。常规XRD、原位XRD、UPS、单晶、XRF、SAXS。能谱XPS、TOF-SIMS、俄歇电子谱辉光质谱。 光谱 红外、拉曼、紫外、荧光、圆二色谱、吡啶红外、fs-TAS。物理吸附、化学吸附、压汞。核磁 液体核磁、固体核磁、ESR/EPR穆斯堡尔谱。成分分析 ICP-OES、ICP-MS 、IC、 EA 、TOC、 C/S 。热分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 热膨胀TMA、 DMA 、比热容 、导热系数 。锥形量热仪 、极限氧指数、 UL94燃烧 。色谱质谱 GPC 、MS 、HPLC 。水分测定 GC-MS 、PY-GC-MS、 MALDI TOF-MS。物性测试 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固体ZETA 接触角。粘度 、矢量网络 、水分测定、 霍尔效应 、塞贝克系数、 流变仪 、电导率、 阻抗 、肖特基 、光电流、 SPV 、电磁屏蔽 、介电、 透气性测试 。力学性能 纳米压痕、 微米划痕、 拉伸 、疲劳 、冲击、 残余应力、 硬度。
单位旗下拥有司法鉴定实验室、未知物鉴定实验室、理化分析实验室、材料测试实验室、药物研发实验室等，提供化学测试、生物实验外包、环境检测、模拟计算、科研绘图、论文润色在内的各类科研服务。