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2.同步辐射吸收谱（XAFS）硬X射线可测元素激发能为4k-20keV，具体为Ca-Mo的K边，或者能量位于该范围内的元素L边，如Pt的L3边。
3.同步辐射吸收谱（XAFS）软X射线可测元素激发能为能量范围在50eV-1500eV内，如C、O的K边。
4.同步辐射XRD常用于结构分析，物相鉴定，与常规X光相比，同步辐射光波长在大范围内连续可调，且准直性好，研究的尺度范围和分辨均优于常规X光。
5.同步辐射SAXS可探测样品内电子密度起伏，研究样品内缺陷和颗粒的尺寸、形状及其分布密度。
6.同步辐射GISAXS/GIWAXS常用于分析薄膜、电池等材料的分子取向和晶体取向，是研究精细结构和分子堆积的重要方法。